GB∕T 4937.21-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性.pdf
ICS 31.080.01 L 40 GB 中华人民共和国国家标准GB/T 4937.21-2018/IEC 60749-21 :20 门半导体器件机械和气候试验方法第 21 部分...