GB∕T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动.pdf
I臼L 40 31.080 . 0 1GB 中华人民共和国国家标准GB/ T 4937.12-2018/ IEC 60749-12:2002 半导体器件机械和气候试验方法第12 部...