GB∕T 4937.30-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理.pdf
I<::s 31.080.01 L 40 道昌中华人民共和国国家标准GB/T 4937.30-2018/IEC 60749-30:20 门半导体器件机械和气候试验方法第 30 部分...
